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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
多功能極片電阻測(cè)量系統(tǒng)是一款專為電池極片、導(dǎo)電薄膜、柔性電子材料等設(shè)計(jì)的精密電阻測(cè)量設(shè)備,可滿足研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)材料導(dǎo)電性能的測(cè)量需求。
詳情介紹:












多功能極片電阻測(cè)量系統(tǒng)
GCJPD-I
產(chǎn)品概述:電池極片中,影響電導(dǎo)率的主要因素包括箔基材與涂層的結(jié)合界面情況,導(dǎo)電劑分布狀態(tài),顆粒之間的接觸狀態(tài)等;通過(guò)電池極片的電導(dǎo)率能夠判斷極片電阻中微觀結(jié)構(gòu)的均勻性,預(yù)測(cè)電池的性能。同時(shí)鋰離子電池極片電阻是影響電池內(nèi)阻、電壓以及自動(dòng)放電率的重要因素。
目前測(cè)試極片電阻的方法有四探針?lè)ê蛢商结樂(lè)?,四探針?lè)ê蛢商结樂(lè)ǘ紵o(wú)法對(duì)被測(cè)物體表面施加壓力,且極片的表面涂層由顆粒組成,與探針的接觸面積小,只測(cè)量了電阻兩端的電壓值和電流值,故探針無(wú)法表征極片電阻。
無(wú)論是四探針?lè)ㄟ€是兩探針?lè)ǘ贾荒鼙碚鞅砻姹拥碾娮瑁粗荒苡糜跍y(cè)量被測(cè)物表面的薄層電阻),對(duì)于較厚且存在成分梯度電池涂層無(wú)法表征極片的電阻值,另外,它也不能測(cè)試真實(shí)極片中涂層與基材之間的接觸電阻。四探針測(cè)試法僅測(cè)量非導(dǎo)電基材極片,且與測(cè)試極片接觸點(diǎn)面積小,極片顆粒大,數(shù)據(jù)無(wú)參考意義。
本公司所研發(fā)的極片電阻測(cè)試儀可以對(duì)電池極片施加可變壓力,可對(duì)壓力值、極片電阻值和厚度變化值進(jìn)行即時(shí)測(cè)量,并建立二次電池極片的受壓、延展與電阻的變化關(guān)系
通過(guò)對(duì)極片施加不同壓強(qiáng),可以使極片表面的涂層顆粒產(chǎn)生不同程度的形變,從而改變極片的導(dǎo)電性能。通過(guò)測(cè)量數(shù)據(jù)可以分析不同壓強(qiáng)下極片的阻值特性,從而對(duì)改良極片提供數(shù)據(jù)參考。
本儀器極片電阻測(cè)試儀,測(cè)試極片電阻阻值時(shí),電流從極片電阻的端面穿過(guò),使得對(duì)極片電阻電阻測(cè)量。
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